国家知识产权局信息显示，浙江日拓电子股份有限公司申请一项名为“一种半导体器件测试探针及其半导体器件测试方法”的专利，公开号CN121324882A，申请日期为2025年12月。
专利摘要显示，本发明涉及半导体器件的测试及其测试探针技术领域，具体涉及一种半导体器件测试探针及其半导体器件测试方法。本发明首先在每个测试监测时刻，获取测试探针的接触稳定系数，进一步确定其预设历史测试时段内每种异常接触类型下的所有异常接触时刻，进而根据异常接触类型的总数量与接触稳定系数，以及不同异常接触类型下异常接触时刻的预设时域内接触电阻的变化分布，获取测试探针的压力施加异常系数并调整施加压力。本发明通过分析接触电阻的变化特征评估接触状态，进而评估测试探针的施加压力异常情况，以调整施加压力，从而确保测试探针与器件测试点之间的良好接触，提高半导体器件的测试准确性。
天眼查资料显示，浙江日拓电子股份有限公司，成立于2014年，位于嘉兴市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1200万人民币。通过天眼查大数据分析，浙江日拓电子股份有限公司共对外投资了1家企业，参与招投标项目4次，财产线索方面有商标信息1条，专利信息37条，此外企业还拥有行政许可7个。
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