国家知识产权局信息显示，上海共进微电子技术有限公司申请一项名为“一种多站点半导体器件测试设备的测试方法、设备和介质”的专利，公开号CN121299399A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本发明公开了一种多站点半导体器件测试设备的测试方法、设备和介质，该方法包括：从所述测试系统中确定出至少一个异常测试站点；根据所述测试系统的设备配置数据，确定多种可选测试模式；使用预先训练的机器学习模型，预测各可选测试模式对所述异常测试站点的测试数据序列的测试效果；根据所述测试效果表征的测试系统的可重复性和再现性，从各可选测试模式中选择确定目标测试模式；根据所述目标测试模式生成测试配置方案；将所述测试配置方案部署在测试系统，以控制所述测试系统按照目标测试模式进行测试，全流程自动化进行，降低人为干预的不确定性，提升了测试流程的可靠性、稳定性与标准化水平，提升半导体制造效益。
天眼查资料显示，上海共进微电子技术有限公司，成立于2021年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本16320万人民币。通过天眼查大数据分析，上海共进微电子技术有限公司共对外投资了1家企业，财产线索方面有商标信息6条，专利信息30条，此外企业还拥有行政许可1个。
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