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广芯微电子取得用于CoolMOS器件的动态损耗检测专利

2026年05月14日 18:09
 

国家知识产权局信息显示,浙江广芯微电子有限公司取得一项名为“用于CoolMOS器件的动态损耗检测方法及系统”的专利,授权公告号CN120820769B,申请日期为2025年9月。

天眼查资料显示,浙江广芯微电子有限公司,成立于2021年,位于丽水市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本5545.4545万人民币。通过天眼查大数据分析,浙江广芯微电子有限公司参与招投标项目32次,财产线索方面有商标信息3条,专利信息47条,此外企业还拥有行政许可9个。

声明:市场有风险,投资需谨慎。本文为AI基于第三方数据生成,仅供参考,不构成个人投资建议。